因?yàn)閷I(yè)
所以領(lǐng)先
以下為多層雙面電路板SMT工藝流程與檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的全面解析,綜合IPC標(biāo)準(zhǔn)及行業(yè)實(shí)踐:
內(nèi)層制作
下料→內(nèi)層圖形轉(zhuǎn)移→酸性蝕刻→黑化處理→層壓定位。
(關(guān)鍵點(diǎn):黑化工藝增強(qiáng)銅層結(jié)合力,層壓需控制溫度在180-200℃/壓力400-600psi)
孔加工
機(jī)械鉆孔(孔徑公差±0.05mm)→沉銅(厚度≥18μm)→全板電鍍→外層圖形電鍍。
(多層板需二次鉆孔,孔徑誤差需<5%)
表面處理
噴錫(Sn63/Pb37,厚度1-40μm)或化學(xué)鍍鎳金(Ni 3-5μm,Au 0.05-0.1μm)。
A面工藝
焊膏印刷(鋼網(wǎng)厚度0.1-0.15mm)→高速貼片機(jī)(精度±0.025mm)→回流焊(峰值溫度235-245℃)。
B面工藝
翻板固定→紅膠點(diǎn)涂(直徑0.8-1.2mm)→中速貼片→固化(120-150℃/3-5min)→選擇性波峰焊。
特殊工藝
盲埋孔板需X-Ray對位,0.4mm BGA采用氮?dú)饣亓骱福ㄑ鹾?lt;1000ppm)。
基材要求
白斑面積<5%,纖維隱現(xiàn)/分層/暈圈不可接受,銅箔附著力≥1.5N/mm2。
尺寸公差
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焊膏印刷
厚度CPK≥1.33,偏移量<焊盤寬度15%。
貼裝精度
元件偏移:Chip元件<焊盤寬度25%,QFP引腳偏移<50μm。
焊接質(zhì)量
AOI檢測
檢出率≥98%,誤報(bào)率≤2%,BGA需100% X-Ray檢測(焊點(diǎn)空洞率<25%)。
功能測試
電氣性能測試(阻抗控制±10%)→老化試驗(yàn)(85℃/85%RH/168h)→振動(dòng)測試(5-500Hz/3軸)。
采用Laser+Mechanical復(fù)合鉆孔技術(shù),提升0.1mm微孔加工精度
導(dǎo)入3D SPI檢測系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)焊膏體積測量精度±5%
應(yīng)用選擇性波峰焊,降低B面元件熱沖擊(ΔT<100℃)
水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個(gè)長期的使用和運(yùn)行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點(diǎn)、灰塵、塵埃等,這些污染物會導(dǎo)致焊點(diǎn)質(zhì)量降低、焊接時(shí)焊點(diǎn)拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進(jìn)行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
合明科技運(yùn)用自身原創(chuàng)的產(chǎn)品技術(shù),滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術(shù)要求,打破國外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國產(chǎn)自主提供強(qiáng)有力的支持。
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